一種自動對焦裝置和方法、檢測裝置和方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110220302.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113038003A | 公開(公告)日 | 2021-06-25 |
申請公布號 | CN113038003A | 申請公布日 | 2021-06-25 |
分類號 | H04N5/232;H01L21/66 | 分類 | 電通信技術; |
發(fā)明人 | 李仲禹;章富平;陳旻峰;江旭初;袁嘉欣;陳椿元 | 申請(專利權)人 | 上海精測半導體技術有限公司 |
代理機構 | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
地址 | 201703 上海市青浦區(qū)徐涇鎮(zhèn)雙浜路269、299號1幢1、3層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種自動對焦裝置和方法、檢測裝置和方法,其中,自動對焦裝置通過控制第一電機、第二電機和第三電機,以控制工件臺的移動,并根據待測物的位置信息調整工件臺的位置,使得待測物處于測焦模塊的焦面處,檢測裝置根據第一導軌在第二導軌上移動的長度,或工件臺在第一導軌上移動的長度,以及自動對焦裝置的對焦情況,控制探測器采集待測物表面的光信號,以及通過重力補償模塊的設置,補償抵消第三電機的部分或者全部重力,使得工件臺在第三方向上運動時,無需再克服第三電機的重力做功,使得工件臺運行到位速度更快,減少對焦時間。 |
