探測(cè)反射光變化的裝置、方法及膜厚測(cè)量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110241306.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113048895A 公開(kāi)(公告)日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN113048895A 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類(lèi)號(hào) G01B11/06 分類(lèi) 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 王奇;李仲禹;王政 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 上海精測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢東喻專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 張英
地址 201702 上海市青浦區(qū)徐涇鎮(zhèn)雙浜路269、299號(hào)1幢1、3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種探測(cè)反射光變化的裝置、方法及膜厚測(cè)量裝置,該裝置包括至少一探測(cè)光源,用于產(chǎn)生入射光束;至少一光瞳分割系統(tǒng),用于將入射光束場(chǎng)強(qiáng)進(jìn)行分割使其在光瞳分割系統(tǒng)第一表面形成為第一場(chǎng)強(qiáng)分布;將具有第三場(chǎng)強(qiáng)分布反射光束使其在光瞳分割系統(tǒng)第二表面形成為第四場(chǎng)強(qiáng)分布;至少一光路準(zhǔn)直系統(tǒng),用于將入射光束聚焦至待測(cè)體表面形成為第二場(chǎng)強(qiáng)分布;接收反射光束于光瞳分割器的第一表面形成為第三場(chǎng)強(qiáng)分布。按照本發(fā)明的裝置及方法,在入射光路上設(shè)置瞳面分割,進(jìn)一步對(duì)入射光和反射光使用同一光路器件,通過(guò)調(diào)整入射探測(cè)光光束的場(chǎng)強(qiáng)分布或透鏡組視場(chǎng)范圍,同樣可以調(diào)制目標(biāo)出射探測(cè)光光斑的場(chǎng)強(qiáng)分布,提高探測(cè)器信噪比。