一種輻射檢測(cè)器

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201880098958.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN112955787A 公開(kāi)（公告）日 2021-06-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN112955787A 申請(qǐng)公布日 2021-06-11
分類號(hào) G01T1/24 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 曹培炎;劉雨潤(rùn) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳幀觀德芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518071 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道塘朗社區(qū)信宜五路13號(hào)塘朗工業(yè)B區(qū)集悅城眾創(chuàng)產(chǎn)業(yè)園52棟201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本文公開(kāi)一種輻射檢測(cè)器系統(tǒng)，其包括：輻射檢測(cè)器（400），所述輻射檢測(cè)器（400）包括半導(dǎo)體襯底和所述半導(dǎo)體襯底中的像素陣列，其中所述像素陣列包括（a）M個(gè)第一行像素（150.1），以及（b）N個(gè)第二行像素（150.2），M和N均為大于1的正整數(shù)，并且其中所述N個(gè)第二行像素（150.2）的每個(gè)像素在垂直于直線段的輻射方向（320）上大于所述M個(gè)第一行像素（150.1）的任何像素，所述直線段具有所述M個(gè)第一行像素（150.1）的第一行末端像素中的第一末端和所述M個(gè)第一行像素（150.1）的第二行末端像素中的第二末端。