一種能增加射頻芯片一致性和可靠性的RFID電子標(biāo)簽
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202120334141.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213987557U | 公開(公告)日 | 2021-08-17 |
申請公布號 | CN213987557U | 申請公布日 | 2021-08-17 |
分類號 | G06K19/077(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 潘敬楨;吳鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州匯成芯通物聯(lián)網(wǎng)科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州周智專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 王曉玲 |
地址 | 215300江蘇省蘇州市昆山市玉山鎮(zhèn)祖沖之南路1699號綜合樓北樓1402室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種能增加射頻芯片一致性和可靠性的RF I D電子標(biāo)簽,包括芯片和金屬天線,所述芯片設(shè)有芯片凸點(diǎn),所述金屬天線設(shè)有天線引腳,所述芯片的芯片凸點(diǎn)與所述金屬天線的天線引腳通過導(dǎo)電膠導(dǎo)通并連接;所有芯片凸點(diǎn)的面積≤所述芯片面積的1/2;天線引腳的邊緣為熱壓過程便于導(dǎo)電膠橫向流動(dòng)的圓角結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型通過改變芯片凸點(diǎn)的大小和形狀,同時(shí)改變電子標(biāo)簽中金屬天線與RF I D射頻芯片接觸點(diǎn)處(即天線引腳處)的形狀,提高芯片在凸點(diǎn)處的固有寄生電容,降低因?yàn)榈官N片綁定封裝工藝中芯片與金屬天線之間的可變寄生電容誤差,以提高RF I D射頻芯片標(biāo)簽的一致性和可靠性,并降低其失效率。 |
