用于存儲晶片一體測試機臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201922342159.2 申請日 -
公開（公告）號 CN210778489U 公開（公告）日 2020-06-16
申請公布號 CN210778489U 申請公布日 2020-06-16
分類號 H01L21/66(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 郭寂波 申請（專利權(quán)）人 深圳市勁升迪龍科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 深圳市查策知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 深圳市勁升迪龍科技發(fā)展有限公司;深圳市芯探科技有限公司
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)沙頭街道車公廟天祥大廈13C2-57
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了用于存儲晶片一體測試機臺，包括裝置主體、檢測裝置和安裝板，所述裝置主體外部的一側(cè)設(shè)置有安裝板，且安裝板內(nèi)部的底端固定連接有彈性塊，所述裝置主體內(nèi)部的頂端設(shè)置有檢測裝置，且裝置主體內(nèi)部的底端安裝有電機，所述裝置主體內(nèi)部底端的兩側(cè)皆固定連接有支板，且支板的一側(cè)固定連接有滑套，裝置主體外部一側(cè)的中間位置安裝有控制面板。本實用新型通過在裝置主體內(nèi)部底端的一側(cè)安裝的電機，電機可以帶動第二滑輪與凸輪轉(zhuǎn)動，第二滑輪會通過皮帶帶動第一滑輪轉(zhuǎn)動，從而使滑動輪可以在滑套上的滑軌上滑動，從而推動滑套在支桿內(nèi)部移動，從而帶動固定臺進行高度的調(diào)節(jié)，使固定臺可以根據(jù)晶片檢測時的需求去調(diào)節(jié)高度。??