精密檢測(cè)裝置、刀具輔件及其制造方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910293558.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110108183A 公開（公告）日 2019-08-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN110108183A 申請(qǐng)公布日 2019-08-09
分類號(hào) G01B5/012;G01B5/016 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 董偉吉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 赫克測(cè)控技術(shù)（蘇州）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州智慧羅盤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 王元博
地址 215131 江蘇省蘇州市相城區(qū)太平街道金澄路88-1號(hào)8209室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開一種精密檢測(cè)裝置和精密檢測(cè)裝置制造方法，其中精密檢測(cè)裝置包括：測(cè)桿,用于通過觸碰的方式檢測(cè)與待測(cè)對(duì)象之間的微間距；觸感反饋組件，用于將所述微間距信息進(jìn)行反饋；復(fù)位組件，用于當(dāng)所述測(cè)桿與待測(cè)對(duì)象之間為非接觸狀態(tài)時(shí)，將所述測(cè)桿進(jìn)行復(fù)位；其中，所述復(fù)位組件包括至少兩個(gè)磁體。復(fù)位組件包括的至少兩個(gè)磁體通過磁力復(fù)位而不是機(jī)械復(fù)位，可以防止復(fù)位卡頓，從而可以防止精密檢測(cè)裝置復(fù)位失效。