氣壓修正真空膜盒實現(xiàn)壓力-位移特性設(shè)計方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110693536.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113505473A 公開（公告）日 2021-10-15
申請公布號 CN113505473A 申請公布日 2021-10-15
分類號 G06F30/20（2020.01）I;G06F30/17（2020.01）I;G06F30/15（2020.01）I;G06F119/14（2020.01）N 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 穆強 申請（專利權(quán)）人 成都凱天電子股份有限公司
代理機構(gòu) 成都君合集專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張鳴潔
地址 610091四川省成都市青羊區(qū)黃田壩西貨站路515號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 氣壓修正真空膜盒實現(xiàn)壓力?位移特性設(shè)計方法，基于軸尖焊接結(jié)構(gòu)的氣壓修正真空膜盒的彈性敏感元件膜片，彈性敏感元件膜片為以圓弧外波加單個梯形波基礎(chǔ)型面的膜片結(jié)構(gòu)，通過膜片壓力?位移特性關(guān)系式計算出彈性敏感元件膜片的厚度h；將厚度h與膜片的工作直徑D和厚度h的關(guān)系曲線圖進(jìn)行對比，確定厚度h是否滿足剛度要求；將比值D/h和彈性敏感元件膜片的壓力P與D/h的關(guān)系破壞曲線進(jìn)行比對，判斷膜片是否滿足強度要求；根據(jù)配套系統(tǒng)給出的真空膜盒的徑向工作空間尺寸，分配膜片梯形平中心頂高H2與支座和軸尖的高度，膜片梯形平中心頂高H2大于單個膜片的位移值W，膜片梯形平中心頂高H2小于膜片平中心最小直徑對應(yīng)的高度值。