一種半導(dǎo)體整流器及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201610148745.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105742338B | 公開(公告)日 | 2018-09-28 |
申請公布號 | CN105742338B | 申請公布日 | 2018-09-28 |
分類號 | H01L29/06;H01L29/66;H01L29/861;H01L21/329 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 劉偉 | 申請(專利權(quán))人 | 杭州立昂微電子股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 杭州杭誠專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 尉偉敏;胡寅旭 |
地址 | 310018 浙江省杭州市下沙經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)20號大街199號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體整流器,包括第一導(dǎo)電類型輕摻雜的外延層,外延層上部橫向間隔設(shè)置有若干第一溝槽,第一溝槽內(nèi)填充有導(dǎo)電多晶硅,導(dǎo)電多晶硅與第一溝槽之間設(shè)有隔離層,隔離層向上凸出形成介質(zhì)墻壁,介質(zhì)墻壁的兩側(cè)設(shè)有導(dǎo)電多晶硅側(cè)墻,外延層上部與導(dǎo)電多晶硅側(cè)墻之間的區(qū)域形成第二溝槽,外延層上部設(shè)有橫向均勻摻雜區(qū)和梯度摻雜區(qū),梯度摻雜區(qū)與隔離層接觸形成溝道,外延層下部、橫向均勻摻雜區(qū)、梯度摻雜區(qū)及隔離層之間設(shè)有間隔區(qū)。本發(fā)明采用溝槽柵結(jié)構(gòu),同時(shí)具有短溝道和溝道摻雜梯度分布,具有更佳的正向?qū)ㄌ匦浴1景l(fā)明還公開了一種半導(dǎo)體整流器制造方法,工藝步驟簡單,工藝窗口大,易于控制,光刻次數(shù)少,制造成本低。 |
