基于超表面技術(shù)的光譜儀和電子設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210347613.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114705291A 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號 CN114705291A 申請公布日 2022-07-05
分類號 G01J3/02（2006.01）I;G01J3/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊新征;孫磊;邱兵 申請（專利權(quán)）人 蘇州山河光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京市漢坤律師事務(wù)所 代理人 -
地址 300450天津市濱海新區(qū)天津經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)濱海-中關(guān)村科技園華塘睿城一區(qū)3號樓二層B區(qū)015號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種光譜儀和一種電子設(shè)備。該光譜儀包括：準(zhǔn)直器，被配置為對從狹縫出射的光進(jìn)行準(zhǔn)直；至少一個(gè)光柵陣列，彼此光學(xué)地級聯(lián)，并被配置為對來自準(zhǔn)直器的光進(jìn)行引導(dǎo)和色散，入射到每個(gè)光柵陣列的光被該光柵陣列偏轉(zhuǎn)；至少一個(gè)超構(gòu)表面陣列，被配置為對來自至少一個(gè)光柵陣列的光進(jìn)行引導(dǎo)和聚焦，入射到至少一個(gè)超構(gòu)表面陣列的不同波長的光被至少一個(gè)超構(gòu)表面陣列聚焦到檢測平面的不同位置處；以及至少一個(gè)光電探測器，被配置為在檢測平面處接收來自至少一個(gè)超構(gòu)表面陣列的光。