一種動(dòng)態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)的收集和處理方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210098677.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN114490819A 公開(kāi)(公告)日 2022-05-13
申請(qǐng)公布號(hào) CN114490819A 申請(qǐng)公布日 2022-05-13
分類號(hào) G06F16/2458(2019.01)I;H04L69/22(2022.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 葉玲玲;郜建政 申請(qǐng)(專利權(quán))人 上海芯旺微電子技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海唯智贏專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 -
地址 200120上海市浦東新區(qū)龍東大道3000號(hào)張江集電港1幢9樓B區(qū)906B室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種動(dòng)態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù)的收集和處理方法及系統(tǒng),屬于集成電路芯片數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域。本技術(shù)方案包括如下步驟:獲取至少一個(gè)測(cè)試設(shè)備的基本信息,包括芯片測(cè)試的數(shù)據(jù)類型、數(shù)據(jù)長(zhǎng)度、數(shù)據(jù)內(nèi)容以及當(dāng)前芯片是否NG;所述基本信息按照特定格式組合,并增加幀頭信息、校驗(yàn)及幀尾信息,生成測(cè)試通信協(xié)議幀;所述上位機(jī)讀取并解析所述測(cè)試通信協(xié)議幀,完成對(duì)所述測(cè)試設(shè)備信息的查閱、收集及分析;接收量產(chǎn)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù),存儲(chǔ)在后臺(tái)數(shù)據(jù)庫(kù)中。本發(fā)明能夠同時(shí)完成對(duì)不同的通信數(shù)據(jù)格式的數(shù)據(jù)的查閱、收集及分析,實(shí)現(xiàn)集成電路行業(yè)對(duì)芯片質(zhì)量要求的一致性與結(jié)果追蹤,并能實(shí)現(xiàn)NG分類統(tǒng)計(jì)分析,其靈活性強(qiáng),使用便捷性好,極具應(yīng)用前景。