一種動態(tài)測試數(shù)據(jù)的收集和處理方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210098677.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114490819A 公開（公告）日 2022-05-13
申請公布號 CN114490819A 申請公布日 2022-05-13
分類號 G06F16/2458（2019.01）I;H04L69/22（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 葉玲玲;郜建政 申請（專利權）人 上海芯旺微電子技術股份有限公司
代理機構 上海唯智贏專利代理事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 200120上海市浦東新區(qū)龍東大道3000號張江集電港1幢9樓B區(qū)906B室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種動態(tài)測試數(shù)據(jù)的收集和處理方法及系統(tǒng)，屬于集成電路芯片數(shù)據(jù)處理技術領域。本技術方案包括如下步驟：獲取至少一個測試設備的基本信息，包括芯片測試的數(shù)據(jù)類型、數(shù)據(jù)長度、數(shù)據(jù)內容以及當前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式組合，并增加幀頭信息、校驗及幀尾信息，生成測試通信協(xié)議幀；所述上位機讀取并解析所述測試通信協(xié)議幀，完成對所述測試設備信息的查閱、收集及分析；接收量產(chǎn)芯片的測試數(shù)據(jù)，存儲在后臺數(shù)據(jù)庫中。本發(fā)明能夠同時完成對不同的通信數(shù)據(jù)格式的數(shù)據(jù)的查閱、收集及分析，實現(xiàn)集成電路行業(yè)對芯片質量要求的一致性與結果追蹤，并能實現(xiàn)NG分類統(tǒng)計分析，其靈活性強，使用便捷性好，極具應用前景。