一種全橋開關(guān)電路狀態(tài)檢測(cè)電路及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910994097.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110794285B 公開（公告）日 2021-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN110794285B 申請(qǐng)公布日 2021-06-22
分類號(hào) G01R31/28 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 崔延光;尹康;馬英矯;蕭放;丁國(guó)杰;石晶林;楊小軍;袁堯 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 淮安中科晶上智能網(wǎng)聯(lián)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京理工大學(xué)專利中心 代理人 溫子云;郭德忠
地址 223001 江蘇省淮安市淮安經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)通源路12號(hào)A幢孵化樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種全橋開關(guān)電路狀態(tài)檢測(cè)電路及方法，設(shè)計(jì)了包含限流單元、穩(wěn)壓?jiǎn)卧?、?chǔ)能單元和檢測(cè)單元的狀態(tài)檢測(cè)電路，只需要將全橋開關(guān)電路橋臂上的負(fù)載輸出端的輸出作為狀態(tài)檢測(cè)電路的輸入，通過(guò)狀態(tài)檢測(cè)電路對(duì)負(fù)載輸出端電壓的檢測(cè)，就能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)全橋開關(guān)電路的狀態(tài)檢測(cè)，與現(xiàn)有技術(shù)中的需要在每個(gè)IGBT或MOSFET上都增加狀態(tài)檢測(cè)電路的方式相比，有效地提高了檢測(cè)電路的檢測(cè)效率，降低了檢測(cè)成本。