一種基于雙互補(bǔ)開環(huán)的表面?zhèn)鞲衅鞯?G雙頻段介電常數(shù)無損測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011533106.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114660365A 公開（公告）日 2022-06-24
申請公布號 CN114660365A 申請公布日 2022-06-24
分類號 G01R27/26（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王宸;劉小明;齊濤;周憶鑫;甘露 申請（專利權(quán)）人 安徽師范大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 241002安徽省蕪湖市九華南路189號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于雙互補(bǔ)開環(huán)的表面的雙頻段5G介電常數(shù)無損測量方法。該傳感器結(jié)構(gòu)由介質(zhì)層、微帶線層和類雙圓環(huán)GND層三部分組成，該傳感器可實(shí)現(xiàn)在通信頻率2?2.8GHz和3.5?5GHz兩個(gè)5G頻帶對各個(gè)物體進(jìn)行介電常數(shù)的測量。本發(fā)明采用雙SMA接口，可直接用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀接入測量。本發(fā)明測量精準(zhǔn)度高、測量方便，不會(huì)對被測樣品造成損耗。同時(shí)，本發(fā)明還有著體積較小、結(jié)構(gòu)簡單，加工成本低、測量范圍適配好等優(yōu)勢。本發(fā)明所闡述的一種基于互補(bǔ)開環(huán)的表面?zhèn)鞲衅鞯?G雙頻段無損介電常數(shù)測量方法可以廣泛應(yīng)用于5G通信和5G關(guān)鍵器件制造等領(lǐng)域。