分析光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品金屬元素含量時的取樣方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201210010910.9 申請日 -
公開（公告）號 CN102539197A 公開（公告）日 2012-07-04
申請公布號 CN102539197A 申請公布日 2012-07-04
分類號 G01N1/10(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何壽林;羅全安 申請（專利權(quán)）人 武漢新硅科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 武漢新硅科技有限公司
地址 436070 湖北省鄂州市葛店開發(fā)區(qū)1號工業(yè)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及高純四氯化硅產(chǎn)品的取樣方法，具體涉及一種分析光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品金屬元素含量時的取樣方法,該方法依次包含清洗取樣瓶、烘干取樣瓶、取樣瓶取樣、金屬元素雜質(zhì)富集四個步驟。