分析光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品金屬元素含量時(shí)的取樣方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201210010910.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN102539197A 公開(kāi)（公告）日 2012-07-04
申請(qǐng)公布號(hào) CN102539197A 申請(qǐng)公布日 2012-07-04
分類號(hào) G01N1/10(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 何壽林;羅全安 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 武漢新硅科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 武漢新硅科技有限公司
地址 436070 湖北省鄂州市葛店開(kāi)發(fā)區(qū)1號(hào)工業(yè)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及高純四氯化硅產(chǎn)品的取樣方法，具體涉及一種分析光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品金屬元素含量時(shí)的取樣方法,該方法依次包含清洗取樣瓶、烘干取樣瓶、取樣瓶取樣、金屬元素雜質(zhì)富集四個(gè)步驟。