光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品含氫雜質(zhì)檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201220026256.6 申請日 -
公開（公告）號 CN202583063U 公開（公告）日 2012-12-05
申請公布號 CN202583063U 申請公布日 2012-12-05
分類號 G01N21/35(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何壽林;羅全安 申請（專利權(quán)）人 武漢新硅科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 代理人 武漢新硅科技有限公司;武漢新硅科技潛江有限公司
地址 436070 湖北省鄂州市葛店開發(fā)區(qū)1號工業(yè)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品檢測系統(tǒng)，特別是光纖用高純四氯化硅產(chǎn)品含氫雜質(zhì)檢測系統(tǒng)，其不同之處為：其包括取樣盤、RT-IR分析儀、固定在RT-IR分析儀上的樣品分析檢測池，樣品分析檢測池包括池身、位于池身兩端的壓緊密封蓋，壓緊密封蓋的內(nèi)側(cè)設(shè)置有透過窗片，池身的一個(gè)接口連接至取樣盤中的分布管，分布管用于接收待分析料液或高純氮?dú)?，池身另一接口連接至液體收集罐。本實(shí)用新型分析結(jié)果準(zhǔn)確、結(jié)構(gòu)簡單。