微機調(diào)控激光干涉儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN02104819.3 申請日 -
公開（公告）號 CN1258670C 公開（公告）日 2006-06-07
申請公布號 CN1258670C 申請公布日 2006-06-07
分類號 G01B9/02(2006.01);G01N21/45(2006.01);G01N3/00(2006.01) 分類 測量；測試;
發(fā)明人 羅至善 申請（專利權(quán)）人 天津大學(xué)北洋科技開發(fā)公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 300072天津市南開區(qū)天津大學(xué)四季村29－5－401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 微機調(diào)控激光干涉儀屬光機電和計算機一體化的儀器，可用于云紋干涉法、電子散斑法和電子幾何云紋法正常光照下亞動態(tài)測試，體積小成本低。設(shè)置激光器(1)，擴束鏡(2)，準直鏡(3)，分光鏡/反光鏡(4)，正交光柵(5)，反射鏡組(6)、(7)，驅(qū)動線路板(8)，步進和變速系統(tǒng)(9)，攝像機(10)以及微機(11)、反射鏡(13)等。除(11)和(13)外，組裝在一個封閉的多層框架(12)內(nèi)。(14)為測試對象。由(11)驅(qū)動(8)、(9)使擴束鏡(2)移動，實現(xiàn)擴束光和準直光的變換；驅(qū)動(4)實現(xiàn)光柵分光和分光鏡分光的變換；驅(qū)動(6)、(7)實現(xiàn)測試靈敏度的小步距大范圍調(diào)節(jié)，初始或載波云紋的調(diào)節(jié)；有微機處理、判斷功能，用于結(jié)構(gòu)強度、熱應(yīng)力、殘余應(yīng)力、焊接質(zhì)量、電子封裝延壽研究，層間缺陷檢測，工程、生物和復(fù)合材料力學(xué)性能測試研究。