一種改變SiC晶片翹曲度的拋光裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021001501.9 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212553303U 公開(公告)日 2021-02-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN212553303U 申請(qǐng)公布日 2021-02-19
分類號(hào) B24B37/10(2012.01)I; 分類 磨削;拋光;
發(fā)明人 藍(lán)寶;李清彬;韓景瑞;周澤成;楊旭騰;邱樹杰;馮禹 申請(qǐng)(專利權(quán))人 廣東天域半導(dǎo)體股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣東莞信律師事務(wù)所 代理人 謝樹宏
地址 523000廣東省東莞市松山湖北部工業(yè)城工業(yè)北一路5號(hào)二樓辦公樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種改變SiC晶片翹曲度的拋光裝置,包括機(jī)架和可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置于所述機(jī)架上的拋光盤,所述拋光盤上固定有一拋光墊,所述拋光墊邊緣處至少設(shè)有一可轉(zhuǎn)動(dòng)并可下壓的拋光頭組件,所述拋光頭組件底部設(shè)有用于收容晶片的收容槽,所述收容槽底部設(shè)有用于吸附所述晶片的吸氣通道。本實(shí)用新型利用拋光頭組件吸附晶片并將晶片下壓至旋轉(zhuǎn)的拋光墊上,拋光晶片,使晶片翹曲面平坦化。??