一種抑制外延邊緣Crown缺陷的方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110771412.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113488375A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-10-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113488375A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-08 |
分類(lèi)號(hào) | H01L21/02(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 韓景瑞;李浩然;孔令沂;楊旭騰;梁土欽;李錫光 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 廣東天域半導(dǎo)體股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣東莞信律師事務(wù)所 | 代理人 | 李錦華 |
地址 | 523000廣東省東莞市松山湖北部工業(yè)城工業(yè)北一路5號(hào)二樓辦公樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種抑制外延邊緣Crown缺陷的方法:在襯底上進(jìn)行外延生長(zhǎng),所述襯底包括內(nèi)部斜切形成的偏角部以及圍繞偏角部的平臺(tái)部,外延生長(zhǎng)時(shí),平臺(tái)部的上方設(shè)置有遮擋件,所述遮擋件的底面與平臺(tái)部的上表面的高度差為0.1?0.3mm。本發(fā)明在生長(zhǎng)外延時(shí),使用遮擋件遮擋住襯底邊緣的平臺(tái)部,即襯底邊緣無(wú)臺(tái)階結(jié)構(gòu)的位置,由于未被遮擋的偏角部是具有斜切形成的臺(tái)階結(jié)構(gòu)的,因此偏角部仍能以臺(tái)階流的生長(zhǎng)模式進(jìn)行生長(zhǎng),而被遮擋的平臺(tái)部生長(zhǎng)氣體難以進(jìn)入,沉積效率極為低下,幾乎無(wú)法沉積,因此可以避免平臺(tái)部通過(guò)二維生長(zhǎng)模式而形成Crown狀缺,從而保障了單一晶型的生長(zhǎng)并且成功抑制了邊緣缺陷的形成。 |
