晶體模塊、檢測器及其高度解碼方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810366676.0 申請日 -
公開（公告）號 CN110389373A 公開（公告）日 2019-10-29
申請公布號 CN110389373A 申請公布日 2019-10-29
分類號 G01T1/202（2006.01）I; G01T1/164（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張熙; 謝思維; 楊靜梧; 趙指向; 翁鳳花; 黃秋; 彭旗宇 申請（專利權(quán)）人 中派科技（深圳）有限責任公司
代理機構(gòu) 北京睿邦知識產(chǎn)權(quán)代理事務所（普通合伙） 代理人 中派科技（深圳）有限責任公司; 廣東影諾數(shù)字醫(yī)學科技有限公司
地址 518063 廣東省深圳市南山區(qū)科技南十二路18號長虹科技大廈903
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種晶體模塊、檢測器和高度解碼方法。晶體模塊的閃爍晶體陣列大小為4N×4N，N為自然數(shù)，除第1列、第4N列的閃爍晶體外，其余閃爍晶體中的位于第2n列的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1列的閃爍晶體耦合的面上設置有第一透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1列的閃爍晶體的與相鄰的第2n列的閃爍晶體耦合的面上設置有第二透光窗口；除第1行、第4N行的閃爍晶體外，其余閃爍晶體中的位于第2n行的閃爍晶體的與相鄰的第2n+1行的閃爍晶體耦合的面上設置有第三透光窗口,其余閃爍晶體中的位于第2n+1行的閃爍晶體的與相鄰的第2n行的閃爍晶體耦合的面上設置有第四透光窗口。本發(fā)明的檢測器具備較高的DOI解碼精度及位置解碼能力。