用于測量高能光子到達時間的方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611004839.8 申請日 -
公開（公告）號 CN106443747B 公開（公告）日 2020-05-29
申請公布號 CN106443747B 申請公布日 2020-05-29
分類號 G01T1/00;H05G1/26 分類 測量；測試;
發(fā)明人 龔政;趙指向;許劍鋒;翁鳳花;黃秋 申請（專利權(quán)）人 中派科技（深圳）有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 北京睿邦知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 中派科技（深圳）有限責(zé)任公司;武漢中派科技有限責(zé)任公司
地址 518063 廣東省深圳市南山區(qū)科技南十二路18號長虹科技大廈903
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種用于測量高能光子到達時間的方法和裝置。該方法包括：獲取與光電傳感器陣列中的每個傳感器單元所檢測到的、高能光子與閃爍晶體發(fā)生反應(yīng)所產(chǎn)生的可見光子相關(guān)的到達時間，其中，閃爍晶體是連續(xù)晶體，光電傳感器陣列包括與閃爍晶體耦合的多個傳感器單元；至少基于與光電傳感器陣列中的每個傳感器單元所檢測到的可見光子相關(guān)的到達時間，獲得與光電傳感器陣列中的選定的至少部分傳感器單元中的每一個分別對應(yīng)的待平均時間；以及對與至少部分傳感器單元中的每一個分別對應(yīng)的待平均時間求平均，以獲得高能光子的到達時間。根據(jù)本發(fā)明實施例的方法和裝置，通過對針對多個傳感器單元獲得的待平均時間求平均，可以獲得較高的時間分辨率。