用于正電子發(fā)射成像設備的檢測器及正電子發(fā)射成像設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810093454.6 申請日 -
公開（公告）號 CN108508474B 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN108508474B 申請公布日 2022-01-21
分類號 G01T1/20（2006.01）I;G01T1/202（2006.01）I;G01T1/29（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張熙;謝思維;楊靜梧;趙指向;翁鳳花;黃秋;彭旗宇 申請（專利權）人 中派科技（深圳）有限責任公司
代理機構 北京睿邦知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 徐丁峰;付偉佳
地址 518063廣東省深圳市南山區(qū)科技南十二路18號長虹科技大廈903
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種用于正電子發(fā)射成像設備的檢測器及正電子發(fā)射成像設備。檢測器包括閃爍晶體模塊以及光電傳感器陣列，閃爍晶體模塊包括多個筒狀閃爍晶體片單元，每一筒狀閃爍晶體片單元具有通孔，多個筒狀閃爍晶體片單元具有不同的通孔尺寸，多個筒狀閃爍晶體片單元沿厚度方向套設，套設所形成的閃爍晶體模塊具有上端面、下端面和由上端面貫穿至下端面的貫穿孔，貫穿孔用于容納待成像對象。光電傳感器陣列耦合在閃爍晶體模塊的上端面或/和閃爍晶體模塊的下端面，用于檢測伽瑪光子與閃爍晶體模塊發(fā)生反應所產(chǎn)生的可見光子，其中，伽瑪光子通過在待成像對象體內發(fā)生的正電子湮滅效應產(chǎn)生。該檢測器加工難度低，組裝簡單，且具備較高的DOI解碼精度及位置解碼能力。