用于正電子發(fā)射成像設(shè)備的檢測器及正電子發(fā)射成像設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711361772.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108562928B 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN108562928B 申請公布日 2022-01-21
分類號 G01T1/29（2006.01）I;G01T1/164（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張熙;謝思維;楊靜梧;趙指向;黃秋;彭旗宇 申請（專利權(quán)）人 中派科技（深圳）有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京睿邦知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐丁峰;付偉佳
地址 518063廣東省深圳市南山區(qū)科技南十二路18號長虹科技大廈903
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種檢測器和具有該檢測器的發(fā)射成像設(shè)備。檢測器包括閃爍晶體模塊以及光電傳感器陣列，閃爍晶體模塊包括多個片狀閃爍晶體單元，每一所述片狀閃爍晶體單元具有通孔，多個片狀閃爍晶體單元軸向堆積以形成所述閃爍晶體模塊，堆積所形成的所述閃爍晶體模塊具有內(nèi)壁、外壁和貫穿孔，所述貫穿孔用于容納待成像對象。光電傳感器陣列耦合在所述閃爍晶體模塊的內(nèi)壁或/和所述閃爍晶體模塊的外壁，用于檢測伽瑪光子與所述閃爍晶體模塊發(fā)生反應(yīng)所產(chǎn)生的可見光子，其中，所述伽瑪光子通過在所述待成像對象體內(nèi)發(fā)生的正電子湮滅效應(yīng)產(chǎn)生。該檢測器加工難度低，組裝簡單，且具備較高的DOI解碼精度及位置解碼能力。