上照式X熒光能量色散光譜儀
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200720062800.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN201016945Y | 公開(kāi)(公告)日 | 2008-02-06 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN201016945Y | 申請(qǐng)公布日 | 2008-02-06 |
分類號(hào) | G01N23/223(2006.01);G01J3/10(2006.01) | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 劉召貴 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 深圳市天瑞儀器有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市凱達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 | 代理人 | 劉大彎 |
地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)福永鎮(zhèn)重慶路科比新工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種上照式X熒光能量色散光譜儀,包括機(jī)身和與之相連的電腦,其特征在于:所述機(jī)身包括外殼(91)、密封樣品腔(71)、機(jī)架(9)、探測(cè)器(10)、光管(11)和樣品臺(tái)(81),其特征在于:所述樣品臺(tái)(81)固定于所述探測(cè)器(10)和光管(11)的下方。因此樣品位于照射光路的下方,采用這種光路設(shè)計(jì),可以避免在測(cè)試過(guò)程中可能對(duì)光路造成的污染,從而更進(jìn)一步地排除了可能對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響的因素,保證了測(cè)試效果。 |
