一種基于不良Map圖的缺陷模式分析方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011088439.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112184691A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112184691A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-01-05 |
| 分類號(hào) | G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 謝箭;趙文政;劉林平 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海喆塔信息科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200120上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)祖沖之路1505弄100號(hào)3幢3層H單元 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 此發(fā)明公開(kāi)了一種基于不良Map圖的缺陷模式分析方法，涉及智能制造與人工智能技術(shù)領(lǐng)域。此發(fā)明對(duì)顯示面板的不良?xì)w類分析，構(gòu)造了一種基于DBSCAN密度聚類的方法，將不良信息快速定位到不良類型中，解決了現(xiàn)有方式存在效率較低、易遺漏某些因素、難于找到真正缺陷模式多種類的技術(shù)問(wèn)題，能夠快速且準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)找到復(fù)雜缺陷種類的技術(shù)效果。同時(shí)解決了現(xiàn)有劃分方法速度慢精度低不便于大數(shù)據(jù)分析的問(wèn)題，此發(fā)明中的方法更適合大數(shù)據(jù)計(jì)算和自動(dòng)化分析，精度高，速度快，是一種高效準(zhǔn)確的自動(dòng)缺陷分類方法。?? |
