一種基于Map圖的不良根因分析方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110812144.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113537356A 公開（公告）日 2021-10-22
申請公布號 CN113537356A 申請公布日 2021-10-22
分類號 G06K9/62（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 謝箭;趙文政;劉林平 申請（專利權(quán)）人 上海喆塔信息科技有限公司
代理機構(gòu) 合肥左心專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張燦秋
地址 200000上海市浦東新區(qū)自由貿(mào)易試驗區(qū)祖沖之路1505弄100號3幢3層H單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于Map圖的不良根因分析方法，涉及OLED、顯示器、面板及半導(dǎo)體制造業(yè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明針對良率損失的根因分析，構(gòu)建了一種基于信息融合的問題參數(shù)快速自動定位方法和因子水平自動劃分方法，解決了傳統(tǒng)分析方法自動化程度低，數(shù)據(jù)信息利用率低，問題定位精度低的問題。本發(fā)明對數(shù)據(jù)進(jìn)行了標(biāo)簽化和分組，提高了數(shù)據(jù)的針對性，同時設(shè)計了不同的規(guī)則組合，融合了不良率數(shù)據(jù)和參數(shù)數(shù)據(jù)各方面的信息，綜合而全面的考慮兩者之間的關(guān)系，使得問題參數(shù)的定位分析更加準(zhǔn)確，高效。同時，為了確定問題參數(shù)的異常波動范圍，提出了基于聚類的參數(shù)水平劃分方法，解決了現(xiàn)有劃分方法速度慢精度低，不利于大數(shù)據(jù)分析的問題。