一種芯片測試系統(tǒng)和芯片測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110286804.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112684326B 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN112684326B 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 連光;梁小江;蘇攀;蒲莉娟;黃禎福 申請（專利權(quán)）人 深圳市創(chuàng)成微電子有限公司
代理機構(gòu) 深圳市君之泉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 呂戰(zhàn)竹
地址 518055廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道西麗社區(qū)打石一路深圳國際創(chuàng)新谷八棟A座2201、2202、2203、2204、2205
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種芯片測試系統(tǒng)和芯片測試方法，所述芯片測試系統(tǒng)包括第一核心板、第二核心板和底板；所述第一核心板用于對基于FPGA的仿真芯片進行測試，所述第二核心板用于對實體芯片樣品進行測試，所述測試底板能夠與所述第一核心板和第二核心板分別可拆卸地配合連接，且包括有與前述兩個測試過程配合的各功能元件；所述芯片測試方法利用所芯片測試系統(tǒng)來進行。本發(fā)明利用同一塊底板兼容了不同的測試階段需求，有效降低了測試成本，簡化了測試操作過程。