晶圓干燥設(shè)備
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202120140270.8 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN213988842U | 公開(公告)日 | 2021-08-17 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN213988842U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-17 |
分類號(hào) | H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳鎬碩;樸靈緒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 蘇州恩騰半導(dǎo)體科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 余明偉 |
地址 | 215024江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城西北區(qū)02棟703室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供一種晶圓干燥設(shè)備,包括熱去離子水提拉干燥槽及紅外干燥槽,所述紅外干燥槽包括干燥槽體及位于所述干燥槽體內(nèi)的晶圓承載裝置、紅外加熱裝置及石英隔離板,所述晶圓承載裝置用于承載晶圓,所述紅外加熱裝置用于對(duì)晶圓進(jìn)行干燥,所述石英隔離板位于所述紅外加熱裝置及晶圓之間,待干燥的晶圓先經(jīng)所述熱去離子水提拉干燥槽干燥后再經(jīng)所述紅外干燥槽干燥。本實(shí)用新型的晶圓干燥設(shè)備可對(duì)晶圓依次進(jìn)行熱去離子水提拉干燥和紅外干燥,可以有效避免局部干燥不充分,尤其是避免晶圓邊緣因水分殘留而導(dǎo)致的污染問題,且在紅外加熱過(guò)程中通過(guò)石英隔離板將晶圓和加熱裝置相隔離,可以進(jìn)一步避免污染,提高干燥良率。 |
