一種用于制備高質(zhì)量碳化硅晶體的保溫裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202121943711.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN215593249U | 公開(公告)日 | 2022-01-21 |
申請公布號 | CN215593249U | 申請公布日 | 2022-01-21 |
分類號 | C30B29/36(2006.01)I;C30B23/00(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 張九陽;李霞;王永方;楊曉俐;張紅巖;高超;劉光旭;蘇麗娜 | 申請(專利權(quán))人 | 山東天岳先進科技股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京君慧知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 馮妙娜 |
地址 | 250118山東省濟南市槐蔭區(qū)天岳南路99號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種用于制備高質(zhì)量碳化硅晶體的保溫裝置,包括:配套的保溫筒和保溫蓋,所述保溫筒的內(nèi)部具有空腔,所述保溫筒的頂部具有連通所述空腔的開口,在裝配狀態(tài)下,所述保溫筒的空腔內(nèi)放置有坩堝;所述保溫蓋的底部開設(shè)有與所述保溫筒同軸的圓形凹槽,所述圓形凹槽的直徑小于所述碳化硅籽晶的直徑,且大于等于所述碳化硅籽晶的直徑的三分之二,所述圓形凹槽的槽深度為30?50mm。本申請?zhí)峁┑谋匮b置,在進行碳化硅長晶的過程中能夠在籽晶的上方構(gòu)造出特定的溫場,使得制得的碳化硅晶體邊緣位置形成能夠阻擋晶體邊緣位錯向內(nèi)滑移、邊緣小角度晶界向內(nèi)延伸的環(huán)形形貌,提升碳化硅晶體中部區(qū)域的晶體質(zhì)量。 |
