液晶透鏡相位檢測裝置和方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110460382.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113237635A | 公開(公告)日 | 2021-08-10 |
申請公布號 | CN113237635A | 申請公布日 | 2021-08-10 |
分類號 | G01M11/02(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 鄭瓊羽;李建軍;章正濤;胡振興 | 申請(專利權(quán))人 | 南昌虛擬現(xiàn)實(shí)研究院股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市智圈知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 郭斌莉 |
地址 | 330000江西省南昌市紅谷灘新區(qū)會展路545號紅谷城投大廈1408室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請實(shí)施例提供了一種液晶透鏡相位檢測裝置和方法,液晶透鏡相位檢測裝置包括干涉儀、遮光擋板以及相機(jī)。干涉儀包括參考光路、樣品光路以及合光形成的干涉光路,液晶透鏡設(shè)置于樣品光路中。遮光擋板設(shè)置于干涉儀所形成的光路以外的第一位置,且能夠從第一位置切換至參考光路或樣品光路,以使干涉儀具有遮光擋板位于第一位置的未遮擋狀態(tài),遮光擋板運(yùn)動至樣品光路的第一遮擋狀態(tài),以及遮光擋板運(yùn)動至參考光路的第二遮擋狀態(tài)。相機(jī)設(shè)置于干涉光路,且用于分別獲取干涉儀處于未遮擋狀態(tài)時(shí)的干涉條紋、處于第一遮擋狀態(tài)時(shí)的參考光束光強(qiáng),以及處于第二遮擋狀態(tài)時(shí)的樣品光束光強(qiáng)。該裝置不僅可以提高圖像處理的準(zhǔn)確性,還可以實(shí)現(xiàn)測試的自動化。 |
