基于γ總量及高密度電法測(cè)量下的偉晶巖鋰礦的圈定方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911116736.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN110764163B 公開(公告)日 2021-06-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN110764163B 申請(qǐng)公布日 2021-06-08
分類號(hào) G01V11/00 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 邵昌盛;馮治豪;丁曉平;鄧子清;楊偉;謝濤;饒魁元;李偉林;皮強(qiáng)林;徐學(xué)貴;劉釗;朱海洋 申請(qǐng)(專利權(quán))人 四川省核工業(yè)地質(zhì)局二八二大隊(duì)
代理機(jī)構(gòu) 成都正華專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 李蕊
地址 618099 四川省德陽市天山南路2段95號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于γ總量及高密度電法測(cè)量下的偉晶巖鋰礦的圈定方法,其包采集每個(gè)斷面上γ照射量率及斷面不同深度處的視電阻率和視極化率;標(biāo)記視電阻率、視極化率和γ照射量率中的異常測(cè)量點(diǎn);將視電阻率和視極化率輸入反演軟件得到視電阻率斷面圖和視極化率斷面圖;采用Mapgis軟件生成γ總量測(cè)量的平面剖面圖;將格式轉(zhuǎn)換后的視電阻率斷面圖和視極化率斷面圖及平面剖面圖輸入Mapgis軟件生成剖面綜合圖;采用異常測(cè)量點(diǎn)在剖面綜合圖上分別圈出第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū);將重合的第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū)標(biāo)記為偉晶巖脈鋰礦富存區(qū),將余下的第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū)標(biāo)記為偉晶巖脈鋰礦疑似區(qū)。