一種芯片測試模塊及芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120855996.X 申請日 -
公開（公告）號 CN215641645U 公開（公告）日 2022-01-25
申請公布號 CN215641645U 申請公布日 2022-01-25
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙仕斌;鐘興和;喻夢婷 申請（專利權(quán)）人 廣州得爾塔影像技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李海波
地址 510663廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城神舟路7號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，公開一種芯片測試模塊及芯片測試系統(tǒng)，芯片測試模塊包括：電致變形塊，電致變形塊可在電壓作用下沿極化方向伸縮；電路板組件，電路板組件設(shè)置于電致變形塊的極化方向上的一側(cè)，且與電致變形塊電連接；以及，至少一個探針，每個探針與電路板組件背離電致變形塊的一側(cè)固定連接，且沿極化方向延伸。在上述芯片測試模塊中，電路板組件與電致變形塊電連接，可以精確控制電致變形塊在極化方向上的伸縮量；可以準(zhǔn)確控制探針在極化方向上的伸縮量，無損地調(diào)整探針至目標(biāo)位置，降低探針和芯片受損的風(fēng)險，提高使用壽命。