陣列光敏電阻激光準直變形測量方法及其裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510168078.9 申請日 -
公開（公告）號 CN104964647A 公開（公告）日 2015-10-07
申請公布號 CN104964647A 申請公布日 2015-10-07
分類號 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I;G01C9/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李躍偉;曹亞萍 申請（專利權）人 貴州宏信達高新科技有限責任公司
代理機構 貴陽中新專利商標事務所 代理人 劉楠;李余江
地址 550081 貴州省貴陽市白云區(qū)沙文鎮(zhèn)沙文工業(yè)園高海路949號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種陣列光敏電阻激光準直變形測量方法機器裝置，它是先確定基準點（1）和測點（2），在基準點（1）設置一個用于向固定方向發(fā)射激光的激光模組（3），在測點（2）上設置一個陣列光敏電阻位移傳感器（4）；通過激光模組（3）向測點（2）發(fā)射激光形成一條穩(wěn)定的基準線，激光在所述陣列光敏電阻位移傳感器（4）上留下一個穩(wěn)定的光斑；通過激光光斑影響區(qū)間換算出激光光斑中心點；通過激光光斑中心點在陣列光敏電阻位移傳感器（4）上的刻度變化，識別目標對象在陣列光敏電阻方向的位移變化。它可實現(xiàn)對目標體相對于基準線的位移監(jiān)測，從而實現(xiàn)變形監(jiān)測領域中的水平位移、垂直位移、傾斜和擾度等多種監(jiān)測項目。