一種適用于熱像儀快速定量化處理的輻射定標(biāo)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010193260.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113494963A 公開（公告）日 2021-10-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN113494963A 申請(qǐng)公布日 2021-10-12
分類號(hào) G01J5/00（2006.01）I;G01J5/08（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 李軍偉;周劍鵬;孫憲中 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江巍宇光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海宏京知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 周高
地址 321200浙江省金華市武義縣武江大道316號(hào)武義科技城科技創(chuàng)新大樓5樓5011
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種適用于熱像儀快速定量化處理的輻射定標(biāo)方法，涉及紅外測(cè)試領(lǐng)域，所述方法包括步驟1：根據(jù)普朗克公式將黑體溫度轉(zhuǎn)化為黑體輻射亮度；步驟2：讀取不同黑體溫度條件下，探測(cè)器接收的電荷數(shù)與曝光時(shí)間的關(guān)系；步驟3：通過定標(biāo)實(shí)驗(yàn)獲取不同黑體溫度對(duì)應(yīng)的電荷通量密度F，并且對(duì)黑體溫度和電荷通量密度F進(jìn)行線性擬合。使得輻射定標(biāo)參數(shù)不再依賴于紅外熱像儀的曝光時(shí)間，有利于紅外熱像儀的快速定量化測(cè)量以及拓展紅外定量測(cè)量的溫度范圍。