電路板雙面檢測(cè)方法及系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410169703.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN105021620B 公開(kāi)（公告）日 2019-03-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN105021620B 申請(qǐng)公布日 2019-03-12
分類號(hào) G01N21/88（2006.01）I; G01B11/00（2006.01）I; G01B11/02（2006.01）I; G01B11/14（2006.01）I; G01R31/02（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 紀(jì)其樂(lè) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 奧蒂瑪光學(xué)科技（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 張全文
地址 518000 廣東省深圳市龍崗區(qū)愛(ài)聯(lián)社區(qū)新屯中路50號(hào)新屯大廈1002
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明適用于電路板檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電路板雙面檢測(cè)方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中電路板需操作員反轉(zhuǎn)放置電路板以進(jìn)行另一面檢測(cè)的問(wèn)題。該電路板雙面檢測(cè)方法包括以下步驟：提供雙面電路板；將第一光學(xué)成像裝置和第二光學(xué)成像裝置分別與電路板正反兩面相對(duì)設(shè)置；利用第一光學(xué)成像裝置和第二光學(xué)成像裝置分別采集電路板正反兩面的圖像信息；數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對(duì)第一光學(xué)成像裝置和第二光學(xué)成像裝置采集的電路板正反兩面的圖像信息分別進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。利用第一光學(xué)成像裝置和第二光學(xué)成像裝置分別采集電路板正反兩面的圖像信息，而無(wú)需對(duì)電路板進(jìn)行翻轉(zhuǎn)操作即可完成，操作簡(jiǎn)單且效率高。