基于多維融合及語義分割的電子器件缺陷檢測(cè)方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810909279.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN109087274A | 公開（公告）日 | 2020-11-06 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109087274A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-06 |
| 分類號(hào) | G06T5/50;G06T7/00;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/30 | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 屈楨深;李瑞坤;徐超凡 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 哈爾濱工業(yè)大學(xué)資產(chǎn)經(jīng)營(yíng)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京隆源天恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 閆冬;吳航 |
| 地址 | 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)西大直街92號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開一種基于多維融合及語義分割的電子器件缺陷檢測(cè)方法及裝置，所述電子器件缺陷檢測(cè)方法包括：步驟a，獲取所述電子元器件外觀的二維圖像數(shù)據(jù)及三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)；步驟c，對(duì)所述二維圖像數(shù)據(jù)及所述三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行配準(zhǔn)處理，構(gòu)建多通道復(fù)合圖像；步驟d，通過語義分割網(wǎng)絡(luò)對(duì)所述多通道復(fù)合圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)和分類；所述電子器件缺陷檢測(cè)裝置包括對(duì)應(yīng)的獲取單元，復(fù)合單元和語義分割單元。通過語義分割網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行缺陷檢測(cè)，能夠利用大量的樣本數(shù)據(jù)，通過卷積的手段從多個(gè)層次提取待測(cè)缺陷的特征，從而為缺陷的檢測(cè)和分類提供豐富而可靠的依據(jù)，提升檢測(cè)精度。 |
