一種廣義哈德曼傳感器

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011103738.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112326031B 公開（公告）日 2022-01-04
申請公布號 CN112326031B 申請公布日 2022-01-04
分類號 G01J4/00（2006.01）I;B81C1/00（2006.01）I;B81B7/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡躍強;張建;段輝高;李苓;羅栩豪;宋強;馬國斌;徐曉波 申請（專利權(quán)）人 湖南大學(xué)深圳研究院
代理機構(gòu) 深圳市六加知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孟麗平
地址 410082湖南省長沙市麓山南路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例涉及微納光學(xué)及光學(xué)檢測領(lǐng)域，特別涉及一種廣義哈德曼傳感器。本發(fā)明實施例提供一種廣義哈德曼傳感器，包括第一超構(gòu)表面元件和第二超構(gòu)表面元件，第一超構(gòu)表面元件和第二超構(gòu)表面元件均包括：介質(zhì)襯底以及至少一個周期的電介質(zhì)納米結(jié)構(gòu)陣列，電介質(zhì)納米結(jié)構(gòu)陣列設(shè)置在介質(zhì)襯底上，電介質(zhì)納米結(jié)構(gòu)陣列包含至少一個電介質(zhì)納米柱，第一超構(gòu)表面元件用于將入射光聚焦到第二超構(gòu)表面元件，第二超構(gòu)表面元件用于顯示入射光帶有偏振態(tài)信息的圖像，當(dāng)入射光經(jīng)過該廣義哈德曼傳感器后，可以通過光斑偏移檢測入射光的波前相位，以及通過出射光圖案來檢測入射光的偏振態(tài)信息。