一種光纖集束器插入損耗的測試方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201611247082.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN108254830B | 公開（公告）日 | 2018-07-06 |
| 申請公布號 | CN108254830B | 申請公布日 | 2018-07-06 |
| 分類號 | G02B6/255(2006.01)I | 分類 | 光學(xué); |
| 發(fā)明人 | 吳國鋒;劉志強(qiáng);童章偉;陽華;岳耀笠;李沼云;張昕;趙灝;劉霄海 | 申請（專利權(quán)）人 | 桂林大為通信技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 桂林市持衡專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 歐陽波;馬蘭 |
| 地址 | 541004廣西壯族自治區(qū)桂林市六合路98號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明為一種光纖集束器插入損耗測試方法，步驟為：測定定標(biāo)參考光纖輸出光功率為參考定標(biāo)；光纖熔接機(jī)設(shè)置為熔接程序手動切換方式；待測試光纖端面角度容限參數(shù)設(shè)置于0.6°以上，定標(biāo)參考光纖放置于光纖熔接機(jī)的一個V形槽中；光纖集束器輸出端面與光功率計的光電探頭相對，待測光纖端面處理平整后依次放入光纖熔接機(jī)的另一個V形槽中，開啟光纖熔接機(jī)的自動對中，待測光纖與定標(biāo)參考光纖的端面對中相接，光功率計測定待測光纖輸出功率，此值與參考定標(biāo)的差為該待測光纖的插入損耗。本發(fā)明集束器待測光纖與定標(biāo)參考光纖對中連接而不熔接，快速完成插入損耗的測試，節(jié)省時間，對于大芯數(shù)光纖集束器省時更顯著，且測定結(jié)果更準(zhǔn)確。?? |
