一種光纖集束器插入損耗的測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611247082.5 申請日 -
公開（公告）號 CN108254830B 公開（公告）日 2018-07-06
申請公布號 CN108254830B 申請公布日 2018-07-06
分類號 G02B6/255(2006.01)I 分類 光學;
發(fā)明人 吳國鋒;劉志強;童章偉;陽華;岳耀笠;李沼云;張昕;趙灝;劉霄海 申請（專利權）人 桂林大為通信技術有限公司
代理機構 桂林市持衡專利商標事務所有限公司 代理人 歐陽波;馬蘭
地址 541004廣西壯族自治區(qū)桂林市六合路98號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明為一種光纖集束器插入損耗測試方法，步驟為：測定定標參考光纖輸出光功率為參考定標；光纖熔接機設置為熔接程序手動切換方式；待測試光纖端面角度容限參數(shù)設置于0.6°以上，定標參考光纖放置于光纖熔接機的一個V形槽中；光纖集束器輸出端面與光功率計的光電探頭相對，待測光纖端面處理平整后依次放入光纖熔接機的另一個V形槽中，開啟光纖熔接機的自動對中，待測光纖與定標參考光纖的端面對中相接，光功率計測定待測光纖輸出功率，此值與參考定標的差為該待測光纖的插入損耗。本發(fā)明集束器待測光纖與定標參考光纖對中連接而不熔接，快速完成插入損耗的測試，節(jié)省時間，對于大芯數(shù)光纖集束器省時更顯著，且測定結果更準確。??