目標(biāo)紅外感應(yīng)判定方法和裝置、電子設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202110232618.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112611465B | 公開（公告）日 | 2021-06-01 |
| 申請公布號 | CN112611465B | 申請公布日 | 2021-06-01 |
| 分類號 | G01J5/12（2006.01）I;G01J5/00（2006.01）I;G01J5/02（2006.01）I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 江自超;江猛;韓紅娟;雷紅軍 | 申請（專利權(quán)）人 | 蘇州華芯微電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州三英知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 潘時(shí)偉 |
| 地址 | 215011江蘇省蘇州市高新區(qū)向陽路198號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請公開了一種目標(biāo)紅外感應(yīng)判定方法和裝置、電子設(shè)備，用于在保證感應(yīng)距離的同時(shí)，降低誤報(bào)率對于PIR感應(yīng)器的應(yīng)用。該目標(biāo)紅外感應(yīng)判定方法包括對采集到的AD數(shù)據(jù)進(jìn)行step型和/或peak型異常數(shù)據(jù)消除的步驟，其中：step型異常數(shù)據(jù)消除步驟包括根據(jù)第n?2和第n?3個(gè)采樣點(diǎn)處AD數(shù)據(jù)差的差值、第n?1個(gè)采樣點(diǎn)處的AD數(shù)據(jù)差、以及第n個(gè)采樣點(diǎn)處的AD數(shù)據(jù)差，判斷第n?2個(gè)采樣點(diǎn)是否為step型跳變；若是，則將第n?2個(gè)采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)差進(jìn)行消除；peak型異常數(shù)據(jù)消除步驟包括根據(jù)第n?1和n?2個(gè)采樣點(diǎn)處AD數(shù)據(jù)差的差值、第n?1和第n個(gè)采樣點(diǎn)處AD數(shù)據(jù)差的乘積，判斷第n?1個(gè)采樣點(diǎn)是否為peak型跳起；若是，則將第n?1個(gè)采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù)差進(jìn)行消除。?? |
