一種表層穿透雷達雙曲線目標檢測方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811126006.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109085548A 公開（公告）日 2018-12-25
申請公布號 CN109085548A 申請公布日 2018-12-25
分類號 G01S7/292;G01S7/41 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉耿燁;席景春;雷文太;侯斐斐;楊治霖;谷慶元;李躍星 申請（專利權(quán)）人 湖南時變通訊科技有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 湖南時變通訊科技有限公司
地址 411100 湖南省湘潭市高新區(qū)雙擁路9號創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)園A區(qū)3棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種表層穿透雷達雙曲線目標檢測方法及裝置，通過預置點分割閾值，將表層穿透雷達接收信號的B?scan圖像轉(zhuǎn)換的二值圖像中孤立的像素點去除，清除二值圖像中的零散的像素點，再通過尋找二值圖像中的上開口和下開口區(qū)域，提取二值圖像中的目標區(qū)域，最后將二值圖像中非聚類的像素點去除，并將兩個雙曲線之間的交叉區(qū)域的像素點去除，使得二值圖像中虛假目標區(qū)域被去除，更精確和完整地提取表層穿透雷達目標檢測中存在的雙曲線目標，解決了現(xiàn)有的表層穿透雷達雙曲線特征的提取方法存在的雙曲線的提取精度不高，背景目標的去除存在的不足的技術(shù)問題。