光學(xué)參數(shù)測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN02294292.0 申請日 -
公開（公告）號 CN2589970Y 公開（公告）日 2003-12-03
申請公布號 CN2589970Y 申請公布日 2003-12-03
分類號 G01N21/55;G01N21/59 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李德林;耿新華;薛俊明;趙穎 申請（專利權(quán)）人 昆明鉑陽遠宏能源科技有限公司
代理機構(gòu) 天津市學(xué)苑有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 代理人 南開大學(xué);昆明鉑陽遠宏能源科技有限公司
地址 300071天津市衛(wèi)津路94號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種光學(xué)參數(shù)測量裝置。解決了現(xiàn)有儀器在垂直入射光條件下不能測量材料的光反射率R、在不同角度測量時R與T不相關(guān)、光吸收率α出現(xiàn)負值等問題。技術(shù)方案是：主要包括光源、標準反射鏡、分光器、檢測器與計算機構(gòu)成；其特征是在光源輸出的光路中增設(shè)半透半反鏡；標準反射鏡安裝在與通過半透半反鏡的入射光成90°角處，并在光源與標準反射鏡之間的垂直方位依次連接分光器、檢測器、計算機。本實用新型實現(xiàn)了在垂直入射光條件下測量材料的光反射率R，保證與垂直光透過率T為相關(guān)數(shù)據(jù)；尤其是當材料為透明薄膜時，有光干涉也能保證R與T是相關(guān)數(shù)據(jù)。本實用新型為光學(xué)測量儀器家族增添了一種測量準確無誤的光學(xué)參數(shù)測量裝置。