一種手動(dòng)探針測(cè)試工作臺(tái)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202123357576.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN216646581U 公開(公告)日 2022-05-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN216646581U 申請(qǐng)公布日 2022-05-31
分類號(hào) G01R1/04(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I;B25B11/00(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 孟恒;劉君;孔魯 申請(qǐng)(專利權(quán))人 山東晶導(dǎo)微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)寧匯景知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 -
地址 273100山東省濟(jì)寧市曲阜市春秋東路166號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開一種手動(dòng)探針測(cè)試工作臺(tái),包括載臺(tái)底座、XY軸移動(dòng)平臺(tái)、Z軸移動(dòng)平臺(tái)和測(cè)試裝置;所述XY軸移動(dòng)平臺(tái)以能夠在水平方向移動(dòng)的方式被設(shè)置于所述載臺(tái)底座,且所述XY軸移動(dòng)平臺(tái)的頂面設(shè)置有絕緣座,所述絕緣座的頂部設(shè)置有銅板;所述Z軸移動(dòng)平臺(tái)以能夠在豎直方向移動(dòng)的方式被設(shè)置于所述載臺(tái)底座,并位于所述XY軸移動(dòng)平臺(tái)的正上方,所述Z軸移動(dòng)平臺(tái)于水平方向設(shè)置有正對(duì)所述銅板的環(huán)形槽;所述測(cè)試裝置包括顯像元件和探邊元件,其中所述顯像元件以在所述Z軸移動(dòng)平臺(tái)的上方正對(duì)所述銅板的方式固定設(shè)置于所述載臺(tái)底座,所述探邊元件被固定設(shè)置于所述環(huán)形槽的側(cè)壁。本申請(qǐng)能夠快速、穩(wěn)定、準(zhǔn)確的測(cè)試半導(dǎo)體元件,尤其是小顆粒晶體。