一種檢測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110260802.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113237891A 公開（公告）日 2021-08-10
申請(qǐng)公布號(hào) CN113237891A 申請(qǐng)公布日 2021-08-10
分類號(hào) G01N21/95;G01N21/01;G01S17/894;G01S17/08;G01S7/481 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 蘇勝飛;田井宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市華訊方舟光電技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅(jiān)怡
地址 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道臣田社區(qū)臣田工業(yè)區(qū)37棟404
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種檢測(cè)系統(tǒng)，該檢測(cè)裝置用于對(duì)待檢測(cè)目標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)，包括：光學(xué)器件，設(shè)置于待檢測(cè)目標(biāo)上，用于接收待檢測(cè)目標(biāo)反射的第一反射光與第二反射光；可見光成像裝置，通過光學(xué)器件接收第一反射光，以得到待檢測(cè)目標(biāo)的圖像；OCT成像裝置，通過光學(xué)器件向待檢測(cè)目標(biāo)輸出檢測(cè)光，并從光學(xué)器件接收第二反射光，以得到待檢測(cè)目標(biāo)的參數(shù)。本申請(qǐng)通過設(shè)置光學(xué)器件，將由待檢測(cè)目標(biāo)發(fā)射的第一反射光傳輸至可見光成像裝置，實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)目標(biāo)二維成像；同時(shí)將由待檢測(cè)目標(biāo)發(fā)射的第二反射光傳輸至OCT成像裝置，獲取待檢測(cè)目標(biāo)的深度信息，實(shí)現(xiàn)二維與三維的掃描檢測(cè)。