白盒測試方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011487970.0 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN114636571A 公開（公告）日 2022-06-17
申請公布號(hào) CN114636571A 申請公布日 2022-06-17
分類號(hào) G01M99/00（2011.01）I;B25J19/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏曉晨 申請（專利權(quán)）人 北京配天技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 100085北京市海淀區(qū)東北旺西路8號(hào)9號(hào)樓3區(qū)103
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種白盒測試方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該白盒測試方法包括：獲取待測機(jī)器人型號(hào)；基于待測機(jī)器人型號(hào)獲取基礎(chǔ)測試函數(shù)與測試集數(shù)據(jù)，進(jìn)行基礎(chǔ)參數(shù)測試；判斷是否通過基礎(chǔ)參數(shù)測試；若是，則基于待測機(jī)器人型號(hào)獲取功能測試函數(shù)與測試集數(shù)據(jù)，進(jìn)行功能測試。本申請根據(jù)待測機(jī)器人的型號(hào)，預(yù)先判斷其通過基礎(chǔ)參數(shù)測試，再進(jìn)行功能測試，有效防止基礎(chǔ)參數(shù)錯(cuò)誤導(dǎo)致功能測試失敗，同時(shí)方便尋找發(fā)生錯(cuò)誤的原因。