一種肖特基二極管及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910686549.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110504330A | 公開(公告)日 | 2019-11-26 |
申請公布號(hào) | CN110504330A | 申請公布日 | 2019-11-26 |
分類號(hào) | H01L29/872(2006.01); H01L29/205(2006.01); H01L29/06(2006.01); H01L21/329(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 單亞東; 謝剛; 胡丹 | 申請(專利權(quán))人 | 廣微集成技術(shù)(深圳)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州市港澄專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 廣微集成技術(shù)(深圳)有限公司 |
地址 | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道松坪山新西路7號(hào)蘭光科技大廈B209 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種肖特基二極管及其制備方法,屬于半導(dǎo)體領(lǐng)域。肖特基二極管包括依次形成于襯底表面的鎵極性GaN層、氮極性GaN層、鈍化層;多個(gè)第一凹槽,其穿過鈍化層、氮極性GaN層位于鎵極性GaN層的上表面;第二凹槽,其穿過鈍化層位于氮極性GaN層之中;第一陰極和第二陰極,其形成在第一凹槽之中并且形成為與鎵極性GaN層電接觸;陽極,其形成在第一陰極和第二陰極之間且與氮極性GaN層電接觸;氧化鎵,形成于第一凹槽內(nèi)暴露出的鎵極性GaN層、氮極性GaN層區(qū)域;氮氧化鎵層,形成在第二凹槽內(nèi)暴露出的氮極性GaN層區(qū)域。通過在陰極和鎵極性GaN層與氮極性GaN層之間設(shè)置氧化鎵,在陽極和氮極性GaN層之間設(shè)置氮氧化鎵層可以顯著降低肖特基二極管的漏電流。 |
