閃存讀閾值預(yù)測(cè)電平確定方法、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201710862664.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN107705814A 公開（公告）日 2018-02-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN107705814A 申請(qǐng)公布日 2018-02-16
分類號(hào) G11C16/34;G11C29/04;G06F11/10 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 黃亦軒 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市致存微電子企業(yè)（有限合伙）
代理機(jī)構(gòu) 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 代理人 深圳市致存微電子企業(yè)（有限合伙）;深圳市得一微電子有限責(zé)任公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技南十二18號(hào)6樓09-1單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種閃存讀閾值預(yù)測(cè)電平確定方法、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：獲取待讀取頁數(shù)據(jù)在相應(yīng)第一閃存塊中的第一分段位置；基于所述第一分段位置獲取對(duì)應(yīng)預(yù)存的讀閾值預(yù)測(cè)電平；獲取所述第一閃存塊的屬性信息，基于該屬性信息調(diào)整所述讀閾值預(yù)測(cè)電平，將調(diào)整后的所述讀閾值預(yù)測(cè)電平作為第一預(yù)測(cè)電平，以基于第一預(yù)測(cè)電平讀取待讀取頁數(shù)據(jù)，以實(shí)現(xiàn)閃存頁數(shù)據(jù)的解碼。本方案解決了現(xiàn)有技術(shù)中未能實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確讀取數(shù)據(jù)，造成解碼糾錯(cuò)效率低的技術(shù)問題。