光學(xué)檢測系統(tǒng)及設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> 2020210669573 申請日 -
公開（公告）號 CN212432998U 公開（公告）日 2021-01-29
申請公布號 CN212432998U 申請公布日 2021-01-29
分類號 G01N21/88(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳貴;花聰聰 申請（專利權(quán)）人 浙江漢振智能技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京知果之信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 崔金
地址 311400浙江省杭州市富陽區(qū)東洲街道高爾夫路209號第6幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種光學(xué)檢測系統(tǒng)及設(shè)備，包括：用于檢測滾子外徑面亮場缺陷的光學(xué)工位一，用于檢測滾子外徑面暗場缺陷的光學(xué)工位二，用于檢測滾子頭端倒角缺陷的光學(xué)工位三，用于檢測滾子頭端端面缺陷的光學(xué)工位四，用于檢測滾子末端倒角缺陷的光學(xué)工位五，用于檢測滾子末端端面缺陷的光學(xué)工位六，所述光學(xué)工位一、光學(xué)工位二相對設(shè)置為檢測垂直方向，所述光學(xué)工位三、光學(xué)工位四相對設(shè)置為檢測傾斜方向，所述光學(xué)工位五、光學(xué)工位六相對設(shè)置為檢測水平方向?？蓪崿F(xiàn)自動對滾子的端面、圓周、倒角的外觀缺陷進(jìn)行檢測，不僅結(jié)構(gòu)簡單緊湊、成本低、使用方便，而且提高了檢測效率和精度。??