一種芯片數(shù)據(jù)訪問測試系統(tǒng)及其工作方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110090282.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112946454A 公開（公告）日 2021-06-11
申請公布號 CN112946454A 申請公布日 2021-06-11
分類號 G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 葉顯;陶晶;周一鳴;呂中明;張龍;周迎亞;李沈飛;景梟;高思琪 申請（專利權(quán)）人 重慶秦嵩科技有限公司
代理機構(gòu) 重慶千石專利代理事務所（普通合伙） 代理人 蔡春儒
地址 401120 重慶市渝北區(qū)仙桃街道數(shù)據(jù)谷中路103號第1-5層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種芯片數(shù)據(jù)訪問測試系統(tǒng)及其工作方法，通過第一氣缸帶動探針往上運動，首先抵接在凹槽內(nèi)，避免了探針與芯片直接發(fā)生碰撞，雖然相比探針直接被氣缸一次性往上推動與測試點A連接多了一個第二氣缸帶動針針沿著滑槽水平滑動和探針往測試孔伸縮的動作，但是卻比電動絲桿這類設(shè)備的所花費的工序時間確是很大的縮短。因此本方案實現(xiàn)了在未大幅度的降低芯片連接速度的基礎(chǔ)上，卻避免了芯片在連接時發(fā)生撞傷的風險。