射頻探頭校準方法及校準裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110507781.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113189531A 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN113189531A 申請公布日 2021-07-30
分類號 G01R35/00;G01R29/12;G01R1/02;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 高昊;林德焱;余良英;楊樂群;劉立明 申請（專利權）人 武漢碧海云天科技股份有限公司
代理機構 武漢楚天專利事務所 代理人 胡盛登
地址 430074 湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)東信路11號留學生創(chuàng)業(yè)園A棟1層1116室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種射頻探頭校準方法及校準裝置，裝置包括射頻電場測量儀、旋轉托盤架、夾持旋轉機構、橫波室、射頻探頭、高頻信號發(fā)生器、功率放大器、高頻毫伏表、衰減器以及計算機，所述射頻電場測量儀安裝在旋轉托盤架上，射頻電場測量儀通過探頭導管連接到射頻探頭；所述探頭導管安裝在夾持旋轉機構上，射頻探頭處于橫波室內；所述高頻信號發(fā)生器的輸出端連接功率放大器的輸入端，功率放大器的輸出端連接到橫波室的一端；所述高頻毫伏表連接到衰減器，衰減器連接到橫波室的另一端；所述射頻電場測量儀連接到計算機。裝置結構外觀美觀，操作精準、便捷，降低了勞動強度，提高了工作效率和產品的合格率。