一種提高金屬膜沉積臺(tái)階覆蓋率的裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210426440.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114645245A 公開(公告)日 2022-06-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN114645245A 申請(qǐng)公布日 2022-06-21
分類號(hào) C23C14/04(2006.01)I;C23C14/18(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I 分類 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面化學(xué)處理;金屬材料的擴(kuò)散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕;
發(fā)明人 史鵬;王世寬;宋永輝 申請(qǐng)(專利權(quán))人 無(wú)錫尚積半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州京昀知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 -
地址 214135江蘇省無(wú)錫市新吳區(qū)長(zhǎng)江南路35-312號(hào)廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種提高金屬膜沉積臺(tái)階覆蓋率的裝置,涉及物理氣相沉積技術(shù)領(lǐng)域。裝置包括:腔體,其內(nèi)設(shè)置有真空腔室,所述腔體的頂部設(shè)置有靶材放置位置,所述靶材放置位置用于放置靶材;晶圓臺(tái),設(shè)置在所述腔體的底部,所述晶圓臺(tái)用于放置晶圓,所述靶材在預(yù)設(shè)工藝下被濺射至所述晶圓表面;其中,所述腔體的高度為90~200mm之間的任意一值,以增加所述靶材與所述晶圓之間的距離。通過(guò)本發(fā)明能夠改善鋁膜的填孔性能,縮短加工時(shí)間。