一種用于晶圓的膠刻蝕方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210026734.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114496777A | 公開(公告)日 | 2022-05-13 |
申請公布號 | CN114496777A | 申請公布日 | 2022-05-13 |
分類號 | H01L21/311(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王兆豐;王世寬;宋永輝 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫尚積半導(dǎo)體科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 蘇州京昀知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 214135江蘇省無錫市新吳區(qū)長江南路35-312號廠房 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種用于晶圓的膠刻蝕方法,涉及刻蝕技術(shù)領(lǐng)域。膠刻蝕方法包括:將所述晶圓置于預(yù)設(shè)腔體中;將所述預(yù)設(shè)腔體的溫度調(diào)節(jié)至預(yù)設(shè)溫度,并向所述預(yù)設(shè)腔體中充入惰性氣體;采用第一預(yù)設(shè)射頻波轟擊所述晶圓,同時采用第二預(yù)設(shè)射頻波與所述第一預(yù)設(shè)射頻波配合形成向下的牽引,以去除所述遮擋層。通過本發(fā)明,能夠提升刻蝕的均勻性。 |
