一種X射線系統(tǒng)的輻射劑量數(shù)值計算方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011628292.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112835088A 公開（公告）日 2021-05-25
申請公布號 CN112835088A 申請公布日 2021-05-25
分類號 G01T1/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王同樂 申請（專利權(quán)）人 德潤特醫(yī)療科技（武漢）有限公司
代理機構(gòu) 寧波甬致專利代理有限公司 代理人 張慶龍
地址 430079 湖北省武漢市東湖高新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷三路777號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種X射線系統(tǒng)的輻射劑量數(shù)值計算方法，包括：測定不同管電壓下的X射線譜數(shù)據(jù)；對X射線譜與管電壓的關(guān)系進行數(shù)據(jù)擬合；計算在不同厚度、不同材質(zhì)的濾過介質(zhì)下衰減后的X射線譜；計算X射線照射劑量；計算當(dāng)前曝光下的單位電流時間積的X射線吸收劑量；通過X射線吸收劑量與管電流、曝光時間的關(guān)系，計算X射線累積劑量；通過外部劑量計測定實際劑量，計算當(dāng)前管電壓下的校準(zhǔn)系數(shù)；計算不同管電壓下的系列校準(zhǔn)系數(shù)；對于固定靶材的X射線源，變更曝光條件計算原始劑量，再經(jīng)過校準(zhǔn)系數(shù)完成校準(zhǔn)得到數(shù)值計算劑量；根據(jù)選擇實際源像距與校準(zhǔn)源像距的關(guān)系，及受照面大小，計算得到面積輻射劑量積數(shù)據(jù)。